微波近场扫描架是一种用于测量微波器件(如天线、集成电路等)近场电磁场分布的高精度设备，通过近场数据可推算远场特性，广泛应用于天线设计、电磁兼容(EMC)测试、雷达隐身材料研究等领域。

产品参数内容：

(1) 有效行程距离：X：1100mm Y:1100mm Z1000mm

(2) 单点定位精度：0.02mm

(3) 单轴回程差：0.01mm

(4) 刻度均匀性：每100mm±0.01mm

(5) 最大速度：50mm/s

(6) 三轴垂直度：0,05°

(7) 软件兼容性：兼容Windows 7，Windows10等常规系统

(8) 软件接口：可精确控制三维扫描平台，并接入矢量网络分析仪，定制扫描范围，中频带宽，输出功率等参数

(9) 扫描方式：支持点扫描，线扫描，面扫描，自定义三维扫描路径

(10) XY轴激光网格校准尺：与XY轴平行度±0.5°

(11) 辅助样品架：与Z轴平行度±2°

(12) 辅助探针台：可任意摆放，调节朝向

(13) 设备自重：350kg

(14) 产地：武汉

(15) 其他：可接受定制